一套 14 层掩膜的"够用"哲学:核心指标体系、90nm DUV 选型逻辑、SOI 衬底、17 个工艺模块全景与六大挑战难度地图——硅光入行的第一张作战地图。
Vπ·L、暗电流、损耗、耦合效率……每个指标由哪道工序决定、为什么是这个数,一次讲清。
为什么不用先进节点:最小 CD 需求 vs 节点能力、14 层掩膜 vs 逻辑 30-60 层的成本账。
FEOL/MEOL/BEOL 三段式 + 六大挑战难度地图 + 入行路线,转岗硅光不迷路。
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硅光工艺系列第一册:90nm DUV 平台选型经济学、六大工艺挑战、SOI 衬底与材料体系、17 模块三段式流程、指标速查表、产业数据坐标与入行面试高频问题。

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