DIGITAL PRODUCT · 硅光系列 01/05

硅光平台全景与选型
技术专报

一套 14 层掩膜的"够用"哲学:核心指标体系、90nm DUV 选型逻辑、SOI 衬底、17 个工艺模块全景与六大挑战难度地图——硅光入行的第一张作战地图。

硅光是半导体工艺里少数"不被 EUV 卡脖子"的高价值赛道:90nm 成熟工艺 + 国产设备即可支撑,高速光模块份额已过 50%,1.6T 进入商业化元年。本册是全系列的地基——先建立"指标 → 工序"的映射直觉,再决定往哪个模块深挖。
WHY THIS BOOK

这本册子解决什么

01

指标 → 工序的映射

Vπ·L、暗电流、损耗、耦合效率……每个指标由哪道工序决定、为什么是这个数,一次讲清。

02

90nm 选型经济学

为什么不用先进节点:最小 CD 需求 vs 节点能力、14 层掩膜 vs 逻辑 30-60 层的成本账。

03

17 模块全景地图

FEOL/MEOL/BEOL 三段式 + 六大挑战难度地图 + 入行路线,转岗硅光不迷路。

PREVIEW · 试读

目录预览(16 节)

以下为全册章节。可据此判断内容是否覆盖你的痛点;确认需要后,按下方购买方式加微信付款,我通过微信私信发送完整电子版(含封面 / 目录 / 全部正文 / 图表 / 速查表)。

01 · 硅光工艺的核心指标体系
02 · 为什么是 90nm DUV,而不是更先进的节点
03 · 六大工艺挑战:硅光不是照抄 CMOS
04 · 衬底与材料体系:SOI 为什么不可替代
05 · 全流程架构:17 个模块的三段式
06 · 关键器件的工艺需求与难度地图
07 · 成本结构:14 层掩膜的经济学
08 · 核心指标速查表
09 · 五个高频问题
10 · 新手常见误区
11 · 产业生态:谁在做硅光
12 · 术语速查
13 · 产业数据坐标:2026 年的硅光市场全景
14 · 给工艺工程师的入行地图
15 · 扩产浪潮下的工艺开发实务
16 · 入行面试高频问题精选
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硅光系列 01SiPh 01
硅光工艺技术专报 / 01

《硅光工艺详解01 · 平台全景与选型》

硅光工艺系列第一册:90nm DUV 平台选型经济学、六大工艺挑战、SOI 衬底与材料体系、17 模块三段式流程、指标速查表、产业数据坐标与入行面试高频问题。

  • 17 个工艺模块三段式全流程架构
  • 六大工艺挑战难度地图(星级评估)
  • 核心指标速查表 + 五个高频问题
  • 2026 硅光市场全景与产业数据坐标
  • 入行面试高频问题精选(附答题要点)
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可以。系列汇总页 siph.html 提供全套购买:五册合集 ¥299(单买 ¥395,省 ¥96),一次交付。
Q4 · 内容适合谁?
半导体工艺 / 设备 / PIE 工程师转型硅光,微电子 / 光电专业学生入行,以及光模块行业想补全晶圆端工艺认知的人。用"工艺需求—难点—失效模式—解法"四件套讲透每个模块。
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