先进 CMOS 浅沟槽隔离刻蚀——从 LOCOS 到 40 nm 节点。STI Loop 八步集成、三种 Hardmask 模式演进、40 nm 分步气体化学、卤素选择比设计、七类典型缺陷排查,以及 recipe 设计的实战原则。
在先进 CMOS 前段(FEOL),STI(浅沟槽隔离)决定有源区宽度、寄生电容与漏电;而沟槽形貌——深度、侧壁角度、底部圆化——几乎全由 STI-ET(沟槽刻蚀)这一道工序定义。刻蚀调不好,上下游全部跟着崩。
STI 决定有源区宽度、寄生电容与闩锁/漏电。沟槽形貌由 STI-ET 定义,刻蚀调不稳,良率先崩。
深度、taper 角度、bottom rounding 全在 STI-ET 这一道。它要跟光刻、填充、CMP、湿法紧密协同。
从三种 hardmask 模式到两段式 recipe,再到七类缺陷排查 SOP——把零散经验落成可执行的调参地图。
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先进 CMOS 浅沟槽隔离刻蚀:从 LOCOS 到 40 nm 节点,STI Loop 八步集成、三种 Hardmask 模式演进、40 nm 分步气体化学、卤素选择比设计、七类典型缺陷排查与 recipe 实战原则。

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